IP67设备和密封部件泄漏测试的理想方法

在我们的以前的帖子，我们讨论了IP67（和IPXX）评级的使用和参数。在这篇文章中，我们将讨论IP67设备和密封部件泄漏测试的理想方法。

对IP67标准的泄漏测试的理想方法是使用压力的体积填充测试进行空气测试。例如，与其他方法相比，这是不破坏性的，可衡量的，可衡量的，以便与生产相比，如扣篮测试。

常规压力或真空衰减测试方法在此处不适用。这是因为密封装置通常缺少任何端口，阀门或以受控方式在其内部产生压力以进行测试目的。

这需要使用密封腔室，定制适合设备或待测部件。To optimize both test cycle time and the sensitivity of the test, and ensure test repeatability and reliability, it’s best to have no more free air space around the test item within this sealed chamber than there is within the item itself—which can be quite small when it comes to leak testing consumer electronics, etc.

然后，我们用压力进行体积填充测试。我们首先测试任何泄漏（大孔），然后为将确定通过/失败的细泄漏测试。

CTS'对密封装置的两步方法泄漏测试以满足IP67要求

CTS使用两步方法进行密封设备泄漏测试，以避免通常导致错误“通过”结果的问题。例如，在没有受控填充的情况下测试时，具有粗糙泄漏的密封装置将通过微量泄漏测试。发生这种情况是因为测试压力将同时填充腔室和部分，这导致在实际测试期间没有测量压力变化。

请参阅下面的图表：

泄漏泄漏测试

对于总泄漏测试，空气通过腔室的隔离阀进入测试室，并且在腔室和参考容积箱之间均衡压力。通过验证两卷之间的均衡压力没有低于预先设定压力，总泄漏测试提供了几乎立即产生的结果。如果密封装置通过总泄漏测试，则可以进行精细的泄漏测试。

细泄漏测试

在延长的一段时间内，精细泄漏测试测量测试室中的压力损失。测试室的隔离阀关闭，监测腔室内的压力以逐渐损失。任何压力变化都表明来自腔室的空气渗透测试项目。细泄漏测试测量压力下降随着时间的推移（x psi损耗每x秒）或校准的体积流量（SCC / M - 标准立方厘米/分钟），其与IP67等级没有进水。

IP67泄漏测试的其他测试方法

虽然上述测试过程通常是IP67泄漏测试最理想的方法，但某些情况可能会呼叫替代方案，如下所示。

真空泄漏测试

代替对测试室加压，可以抽真空以产生真空。这将确定空气是否从测试项目泄漏。真空泄漏测试方法可以用于所讨论的项目预期在经常使用期间经历大量大气压变化的情况。

氦泄漏测试

另一种选择是用氦气轰击测试物品代替加压空气，然后嗅探用质谱仪泄漏氦气的任何证据。然而，这种方法通常保留用于比IP67更严格的可接受的泄漏率。


在大多数情况下，用压力进行体积填充测试是确保密封装置和组件确实实现了广告的IP67评级的理想方法。该测试方法提供可靠性，可重复性和客观性制造商需要维持生产卷，减少废料和返工，并包含成本。

了解有关CTS的IP67测试功能的更多信息阅读本案研究。