IP67设备和密封部件泄漏测试的理想方法

在我们的在之前的文章中，我们讨论了IP67(和IPxx)评级的使用和参数。在这篇文章中，我们将讨论IP67设备和密封组件泄漏测试的理想方法。

对于IP67标准来说，理想的泄漏测试方法是用空气进行测试，使用带压力的容量填充测试。这是非破坏性的，可测量的，与其他方法相比，如扣篮测试，更快跟上生产的步伐。

常规压力或真空衰减测试方法在此处不适用。这是因为密封装置通常缺少任何端口，阀门或以受控方式在其内部产生压力以进行测试目的。

这就要求使用密封的腔室，定制适合被测试的设备或部件。优化测试周期和测试的灵敏度,并确保测试重复性和可靠性,最好是没有更多的自由空气空间在测试项目在这个密封室比内项目甚至可以很小的时候泄漏测试消费电子产品,等等。

然后我们进行有压力的体积填充试验。我们首先测试任何严重泄漏(大孔)，然后进行细微泄漏测试，以确定是否通过。

CTS的密封装置泄漏测试两步法，以满足IP67的要求

CTS使用两步方法进行密封设备泄漏测试，以避免通常导致错误“通过”结果的问题。例如，在没有控制填料的情况下，一个严重泄漏的密封装置将通过精细泄漏测试。这是因为测试压力将同时填充腔室和部件，这导致在实际测试中没有测量压力变化。

请参阅下面的图表：

泄漏泄漏测试

对于总泄漏测试，空气通过腔室的隔离阀进入测试室，并且在腔室和参考容积箱之间均衡压力。通过验证两卷之间的均衡压力没有低于预先设定压力，总泄漏测试提供了几乎立即产生的结果。如果密封装置通过总泄漏测试，则可以进行精细的泄漏测试。

细泄漏测试

精细泄漏测试测量试验室内长时间内的压力损失。关闭试验室的隔离阀，监测试验室内的压力是否逐渐下降。压力的任何变化都表明空气从腔室渗透到测试项目。精细泄漏测试可以测量随时间的压降(每x秒x psi损失)或校准体积流量(scc/m -标准立方厘米/分钟)，这与IP67等级的无水渗入有关。

IP67泄漏测试的其他测试方法

虽然上述测试过程通常是IP67泄漏测试最理想的方法，但某些情况可能会呼叫替代方案，如下所示。

真空泄漏测试

代替对测试室加压，可以抽真空以产生真空。这将确定空气是否从测试项目泄漏。真空泄漏测试方法可以用于所讨论的项目预期在经常使用期间经历大量大气压变化的情况。

氦检漏试验

另一种选择是用氦气轰击测试物品代替加压空气，然后嗅探用质谱仪泄漏氦气的任何证据。然而，这种方法通常保留用于比IP67更严格的可接受的泄漏率。


在大多数情况下，带压力的体积填充测试是确保密封设备和部件确实达到IP67等级的理想方法。这种测试方法提供了可靠性、可重复性和客观性，制造商需要保持产量，减少报废和返工，并控制成本。

了解有关CTS的IP67测试功能的更多信息阅读这个案例研究。